YBD868 Testador de CI Digital Comutável 110V/220V para CIs TTL CMOS DIP de 40 Pinos

O Que Este Testador Faz

O YBD868 é um testador digital de CI de bancada para circuitos integrados do tipo DIP com até 40 pinos. É usado para verificar resultados PASSAR/FALHAR, identificar números de modelo de dispositivos suportados pelo número de pinos, executar burn-in dinâmico ou testes contínuos, e consultar dispositivos substitutos com função lógica e disposição de pinos correspondentes.

Gama de Dispositivos Suportados

A biblioteca incorporada cobre mais de 2.000 dispositivos, incluindo TTL54, TTL55, TTL74, TTL75, CMOS14, CMOS40, CMOS45, optoacopladores, displays LED, RAM universal, SCM universal e séries periféricas de microprocessadores.

Especificações Principais

Quando Escolher o YBD868

• Para bancadas de reparação, laboratórios de eletrónica e equipas de manutenção que necessitam de um testador digital de CI dedicado.
• Para verificar muitas famílias comuns de CIs TTL, CMOS, optoacopladores, displays LED, RAM, SCM e periféricos de microprocessadores.
• Para compradores que precisam de identificação do número de modelo e consulta de substituição além de uma simples verificação PASSAR/FALHAR.

Notas de Operação

• Ligue o testador sem inserir nenhum CI ou fio de curto-circuito metálico no soquete ZIF.
• Para introdução do modelo, use a parte numérica do número do CI e omita prefixos ou sufixos do fabricante quando aplicável.
• Alinhe a ranhura do CI no lado esquerdo do soquete ZIF antes de bloquear o soquete e executar o teste.
• Para consulta de substituição, confirme os requisitos elétricos completos do dispositivo de substituição antes de o usar num circuito.
• Para qualquer requisito de alimentação diferente de 220V, confirme a configuração de voltagem antes de encomendar.

Transferências

• Descarregar o manual de utilizador em inglês do YBD868 (PDF)

Perguntas Frequentes

Que CIs pode testar o YBD868?

O testador é concebido para CIs do tipo DIP com até 40 pinos e inclui uma biblioteca com mais de 2.000 dispositivos das séries TTL, CMOS, optoacopladores, displays LED, RAM, SCM e periféricos de microprocessadores.

Mostra apenas PASSAR ou FALHAR?

Não. Para além do teste PASSAR/FALHAR, o YBD868 suporta identificação do modelo do dispositivo, burn-in dinâmico, consulta de substituição e operações relacionadas com deteção de falhas.

Como devo introduzir o número do modelo do CI?

Introduza a parte numérica do número do modelo. Por exemplo, o manual usa 7400 para os exemplos N74LS00N, N74S00N e 74ALS00N.

Consegue identificar modelos EPROM ou EEPROM?

A identificação numérica não é usada para EPROM ou EEPROM neste testador. Confirme o modelo do CI alvo e a função de teste necessária antes de encomendar.

Onde posso encontrar os passos de operação?

O manual de utilizador em inglês ligado acima cobre auto-verificação, operação básica, operação especial, precauções, deteção de falhas e a lista de dispositivos testáveis.

Consulte instrumentos de teste elétricos relacionados em instrumentos de teste elétricos da FMF Supply.