Como escolher um testador digital de IC para ICs TTL, CMOS, RAM e DIP 40-Pin

Escolher um testador de CI digital é mais fácil quando a seleção começa pelas famílias de dispositivos que realmente precisa de verificar. Um pequeno testador concebido apenas para chips lógicos 14-pin ou 16-pin comuns pode ser suficiente para kits de aprendizagem simples, mas bancadas de reparação, laboratórios de eletrónica e equipas de manutenção industrial necessitam frequentemente de uma cobertura mais ampla de CIs DIP, de um socket ZIF estável, de indicação rápida de APROVADO/REPROVADO e de suporte para dispositivos TTL, CMOS, RAM e periféricos de microprocessador mais antigos.

Para compradores que necessitam de um testador de bancada para circuitos integrados de tipo DIP suportados, o YBD868 Digital IC Tester baseia-se num socket de teste 40-pin, numa biblioteca integrada de dispositivos e numa utilização simples no painel frontal. Foi concebido para verificação APROVADO/REPROVADO, identificação do número de modelo do dispositivo, testes dinâmicos de burn-in e consulta de dispositivos substitutos nas famílias de CIs digitais suportadas.

Comece pelo encapsulamento do CI e pelo número de pinos

A primeira questão de seleção é saber se as suas peças são CIs de tipo DIP. DIP significa "dual in-line package", o encapsulamento de chip de furo passante com duas filas paralelas de pinos. Se o seu trabalho de reparação envolve sobretudo chips lógicos DIP, chips de memória e periféricos de controladores mais antigos, um testador de CIs DIP 40-pin proporciona maior cobertura do que um pequeno testador limitado a contagens de pinos mais baixas.

O YBD868 suporta testes de CIs de tipo DIP até 40 pinos. Isto torna-o adequado para muitas verificações comuns de bancada, nas quais o CI pode ser removido do circuito e colocado no socket ZIF do testador. ZIF significa "zero insertion force"; é o socket com alavanca que segura o chip durante o teste sem forçar os pinos para dentro de um socket fixo apertado.

Se também necessitar de medições ao nível dos componentes, como capacitância, indutância e resistência, combine o testador de CIs com um AT825 medidor LCR digital portátil ou consulte instrumentos de teste elétrico relacionados.

Faça corresponder a biblioteca do testador às famílias dos seus dispositivos

Um testador de circuitos integrados útil deve abranger as famílias de chips que encontra na bancada. Para trabalho com CIs digitais, as necessidades comuns de seleção incluem testes TTL e CMOS, verificações de TTL74, verificações da série CMOS40, testes de CIs RAM e testes de CIs optoacopladores. São requisitos práticos de bancada, e não apenas variações de nomes de produtos.

O YBD868 inclui uma biblioteca de mais de 2,000 dispositivos suportados. As famílias suportadas incluem TTL54, TTL55, TTL74, TTL75, CMOS14, CMOS40, CMOS45, optoacopladores, dispositivos de visor LED, RAM universal, SCM universal e séries de periféricos de microprocessadores. Isto confere ao testador uma função mais abrangente do que um verificador básico de portas lógicas.

Para uma seleção prática, agrupe os seus chips-alvo antes de encomendar:

Necessidade do comprador O que verificar antes de escolher
Teste de CIs TTL das séries 54/74 Confirme que o testador suporta a família TTL e o número de modelo pretendido
Teste de CIs CMOS das séries 4000/4500 Verifique o suporte de CMOS40 e CMOS45 para os números dos seus dispositivos
Teste de optoacopladores Confirme que o modelo do optoacoplador aparece na gama suportada
Teste de dispositivos de visor LED Faça corresponder o tipo de visor e o código utilizados pelo testador
Teste de CIs RAM Verifique se o seu modelo de RAM está na biblioteca do testador
Teste de periféricos de microprocessadores Confirme os modelos exatos de periféricos, tais como dispositivos 82xx ou 68xx suportados

Escolha a função de teste adequada, não apenas o socket adequado

Muitos compradores começam por pesquisar "IC tester for sale" ou "40-pin IC tester", mas a diferença útil está frequentemente na função de teste. Um testador de CIs digitais de bancada deve ajudar em mais do que a simples inserção física.

O YBD868 suporta estas funções principais:

  • Verificação APROVADO/REPROVADO para dispositivos suportados.
  • Identificação do número de modelo do dispositivo para dispositivos funcionais suportados.
  • Teste dinâmico de burn-in para verificação contínua de um CI selecionado.
  • Consulta de substituição para dispositivos suportados com a mesma função lógica e disposição de pinos.

A verificação APROVADO/REPROVADO é útil quando conhece o modelo do CI e pretende um resultado funcional rápido. A identificação do modelo do dispositivo é útil quando a marcação não é clara, mas continua a depender de o dispositivo estar funcional e presente na biblioteca do testador. O burn-in dinâmico é útil quando pretende uma verificação contínua mais prolongada em vez de um único teste rápido. A consulta de substituição é útil ao procurar uma substituição compatível a nível lógico, mas a substituição continua a exigir uma verificação normal de engenharia quanto a tensão, temporização, encapsulamento e requisitos do circuito antes da instalação.

Verifique a alimentação e a configuração da bancada

Para compradores internacionais, a seleção da tensão é importante. A página de produto do YBD868 indica entrada CA comutável 110V/220V, enquanto a especificação de funcionamento original indica CA 220V, 50Hz e consumo de energia 12VA. Utilize o seletor de tensão traseiro para corresponder à alimentação local antes de ligar a energia.

O testador utiliza um teclado de membrana 16-key com avisos sonoros de dois tons, um visor LED 6-digit e quatro indicadores de estado LED. É uma unidade de bancada com chassis de plástico e um peso indicado de 2.0 kg. A temperatura de funcionamento é de 0 a 40 C.

Para trabalho contínuo prolongado na bancada, planeie curtos períodos de descanso. As notas de funcionamento indicam que o testador deve ser desligado durante 5 minutos após uma hora de funcionamento contínuo. Para funcionamento ininterrupto, mantenha a tensão de alimentação abaixo de 230V e a temperatura ambiente abaixo de 25 C.

Utilize o método correto de introdução de números

As regras de introdução do modelo são uma parte importante da escolha e utilização de um testador de CIs digitais. O YBD868 utiliza a parte numérica do número de modelo do CI em muitos testes. Por exemplo, introduz-se 7400 para variantes comuns como N74LS00N, N74S00N ou 74ALS00N. Para algumas séries CMOS, o testador utiliza o código numérico correspondente, como introduzir 4013 para MC14013 ou 4510 para MC14510.

Isto é importante porque muitos operadores identificam as peças pela marcação completa do chip, enquanto o próprio testador pode utilizar uma introdução numérica abreviada. Um bom guia de compra deve ajudar os utilizadores a relacionar ambas as formas, como 74LS00 e 7400, MC14013 e 4013, ou MC14510 e 4510.

Quando o YBD868 é uma boa escolha

O YBD868 é uma boa opção quando o trabalho envolve CIs digitais de tipo DIP suportados e o comprador necessita de um testador de bancada para verificações funcionais rápidas. É adequado para bancadas de reparação, equipas de manutenção, laboratórios de formação e trabalhos de eletrónica em que os chips são removidos e testados num socket.

É especialmente relevante para compradores que necessitam de:

  • testador de CIs digitais de bancada para chips DIP
  • testador de circuitos integrados TTL CMOS
  • testador de CIs com socket ZIF 40-pin
  • testador de chips de CI APROVADO REPROVADO
  • testador para identificação do número de modelo de CI
  • testador de CIs digitais para burn-in dinâmico
  • testador de CIs optoacopladores e RAM
  • testador de CIs comutável 110V 220V

Não deve ser considerado uma prova universal de todos os parâmetros da folha de dados. Um resultado APROVADO significa que o dispositivo passou o padrão de teste funcional suportado pelo testador para esse modelo. Para decisões finais de reparação de circuitos, considere também a temporização, os requisitos de tensão, o comportamento em função da temperatura e as condições do circuito original.

Compare com instrumentos de bancada relacionados

Um testador de CIs digitais é uma parte de uma bancada de reparação ou controlo de qualidade. Verifica a função lógica dos CIs suportados, mas outros testes elétricos continuam a necessitar de instrumentos separados.

Ligações FMF úteis:

Lista de verificação de seleção

Antes de comprar um testador de CIs digitais, verifique estes pontos:

  1. Os seus CIs são dispositivos de tipo DIP que podem ser inseridos num socket ZIF?
  2. O número máximo de pinos é suficiente para os seus dispositivos-alvo?
  3. A biblioteca integrada inclui os seus modelos TTL, CMOS, RAM, optoacoplador, visor LED, SCM ou periférico de microprocessador?
  4. Necessita apenas de APROVADO/REPROVADO ou também de identificação de modelo, burn-in dinâmico e consulta de substituição?
  5. A entrada de alimentação corresponde à alimentação da sua bancada local?
  6. Necessita de instrumentos separados para testes de tensão, resistência, capacitância, análise de sinais ou carga de potência?
  7. O operador irá introduzir os números de modelo segundo as regras de introdução numérica do testador?

Perguntas frequentes

Qual é o melhor testador de CIs digitais para chips DIP TTL e CMOS?

Para CIs digitais de tipo DIP suportados até 40 pinos, escolha um testador com uma ampla biblioteca TTL e CMOS, um socket ZIF estável, verificação APROVADO/REPROVADO e utilização clara no painel frontal. O YBD868 abrange as séries TTL54, TTL55, TTL74, TTL75, CMOS14, CMOS40 e CMOS45, juntamente com várias famílias de dispositivos relacionadas.

Um testador de CIs consegue verificar todos os circuitos integrados?

Não. Um testador de CIs digitais apenas verifica os tipos de dispositivos suportados pela sua biblioteca e gama de encapsulamentos. Confirme a família e o modelo exatos do seu CI antes de encomendar.

Um resultado APROVADO significa que o CI cumpre todos os parâmetros da folha de dados?

Não. O teste APROVADO/REPROVADO é uma verificação funcional dentro do método de teste suportado pelo testador. Para trabalhos de reparação críticos, considere também os parâmetros da folha de dados, a tensão de alimentação, a temporização, as condições de carga e o circuito em que o CI será utilizado.

Porque é que o número de pinos é importante?

O número de pinos determina se o chip pode caber fisicamente e ser ligado corretamente no socket do testador. Um testador de CIs DIP 40-pin abrange mais dispositivos DIP do que um pequeno verificador 14-pin ou 16-pin.

Porque é que um socket ZIF é útil?

Um socket ZIF permite ao operador inserir e remover CIs DIP com menor esforço mecânico sobre os pinos. Isto é útil quando se verificam muitos chips numa bancada de reparação.

O testador consegue identificar um CI desconhecido?

O YBD868 suporta a identificação do número de modelo do dispositivo para dispositivos funcionais suportados na sua biblioteca. Não constitui garantia para dispositivos danificados, peças não suportadas ou dispositivos fora do método de identificação do testador.

Pode testar EPROM ou EEPROM através da identificação por número?

A identificação por número não é utilizada para EPROM ou EEPROM neste testador. Confirme o tipo de CI pretendido e a função de teste necessária antes de encomendar.

O que está incluído com o YBD868?

O conteúdo da embalagem inclui o testador de CIs digitais YBD868, cabo de alimentação, manual de utilização e cartão de garantia.

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