YBD868 Testeur de circuits intégrés numériques 110V/220V commutable pour CI DIP TTL/CMOS 40 broches

Ce que fait ce testeur

Le YBD868 est un testeur numérique de circuits intégrés de type DIP jusqu'à 40 broches, conçu pour être utilisé sur un banc. Il sert à vérifier les résultats PASS/FAIL, identifier les numéros de modèle des dispositifs pris en charge selon le nombre de broches, effectuer des tests dynamiques de burn-in ou des tests continus, et rechercher des dispositifs de substitution avec une fonction logique et une disposition des broches correspondantes.

Gamme de dispositifs pris en charge

La bibliothèque intégrée couvre plus de 2 000 dispositifs, incluant les séries TTL54, TTL55, TTL74, TTL75, CMOS14, CMOS40, CMOS45, optocoupleurs, affichages LED, RAM universelle, SCM universelle et périphériques microprocesseurs.

Caractéristiques principales

Quand choisir le YBD868

• Pour les bancs de réparation, les laboratoires d’électronique et les équipes de maintenance qui ont besoin d’un testeur numérique de CI dédié.
• Pour tester de nombreuses familles courantes de CI TTL, CMOS, optocoupleurs, affichages LED, RAM, SCM et périphériques microprocesseurs.
• Pour les acheteurs qui ont besoin d’une identification du numéro de modèle et d’une recherche de substitution en plus d’un simple test PASS/FAIL.

Notes d’utilisation

• Allumez le testeur sans insérer de CI ni de fil de court-circuit métallique dans la prise ZIF.
• Pour la saisie du modèle, utilisez la partie numérique du numéro de CI et omettez les préfixes ou suffixes du fabricant si applicable.
• Alignez l’encoche du CI sur le côté gauche de la prise ZIF avant de verrouiller la prise et de lancer un test.
• Pour la recherche de substitution, confirmez les exigences électriques complètes du dispositif de remplacement avant de l’utiliser dans un circuit.
• Pour toute exigence d’alimentation autre que 220V, vérifiez la configuration de tension avant de commander.

Téléchargements

• Télécharger le manuel utilisateur en anglais du YBD868 (PDF)

FAQ

Quels CI le YBD868 peut-il tester ?

Le testeur est conçu pour les CI de type DIP jusqu’à 40 broches et comprend une bibliothèque de plus de 2 000 dispositifs couvrant les séries TTL, CMOS, optocoupleurs, affichages LED, RAM, SCM et périphériques microprocesseurs.

Affiche-t-il seulement PASS ou FAIL ?

Non. En plus du test PASS/FAIL, le YBD868 prend en charge l’identification du modèle de dispositif, le burn-in dynamique, la recherche de substitution et les opérations liées à la détection de défauts.

Comment dois-je saisir un numéro de modèle de CI ?

Saisissez la partie numérique du numéro de modèle. Par exemple, le manuel utilise 7400 pour les exemples N74LS00N, N74S00N et 74ALS00N.

Peut-il identifier les modèles EPROM ou EEPROM ?

L’identification par numéro n’est pas utilisée pour les EPROM ou EEPROM sur ce testeur. Confirmez votre modèle de CI cible et la fonction de test requise avant de commander.

Où puis-je trouver les étapes d’utilisation ?

Le manuel utilisateur en anglais lié ci-dessus couvre l’auto-test, le fonctionnement de base, les opérations spéciales, les précautions, la détection de défauts et la liste des dispositifs mesurables.

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